德國EPK minitest 735涂鍍層測厚儀是可以選配多種探頭，滿足各種需求。大部分客戶對此款儀器的校準程序都熟悉，不過當帶側面表面有粗糙度時，該如何校準呢,有很多使用人員還不是很了解，下文將簡要介紹：

initest 735系列提供多種校準方法來滿足各種應用場合和工業(yè)標準。如果創(chuàng)建了一個批組，您就可以為這個批組選擇一種合適的校準方法。在測量模式下，你可以在創(chuàng)建批組后立即進行準，也可以遲些時候進行校準。按下功能鍵 CAL，即可在測量模式下調出校準功能。只要沒有讀數(shù)被存儲在當前激活的批組下，就可以改變校準方法。校準須在當前激活的批組內進行，并直接和批組相關。為了確保做到最合適的校準，我們應注意以下幾個問題

1.噴丸（砂）和粗糙表面

為了法除鐵銹以保證涂層和底材之間好的粘附性，底材通常會進行噴丸（砂）的表面預處理。因此，底材通常會變得粗糙。粗糙表面會影響測量結果，即，讀數(shù)會比涂層實際厚度更大。以下部分描述了如何去除粗糙度對測量結果影響的方法。對校準和取平均值，我們通常推薦測量10次。

如果您按照以下的步驟進行測量，將會顯示表面峰值上的平均厚度。統(tǒng)計功能對此操作程序是大有幫助的。

2.方法A（粗糙度Rz＞20um）

當創(chuàng)建批組時，設置校準方法為“手動”。校準點：零點（直接在基材上）和一片標準箔片。根據(jù)上述方法，在光滑的，清潔的無涂層樣品上進行兩點校準。在此樣品上測量10次并取平均值。在批組的“粗糙度”設定中輸入此平均值作為粗糙度。您所輸入的粗糙度值將會從實測厚度值中自動被減去。

在實際被測工件上至少測量10次。

3.方法B（粗糙度Rz＜20um）

當創(chuàng)建批組時，設置校準方法為“手動”。校準點：零點（直接在基材上）和一片標準箔片。根據(jù)上述方法，在經噴丸（砂）處理的，清潔的無涂層樣品上進行兩點校準。在此樣品表面至少測讀10次，做零校準。然后再在此樣品上用一片標準箔片測讀10次，用平均值校準。為了確保更好的校準效果，您可以使用幾片標準箔片（每片不大于50um）疊在一起進行校準。校準值應與預計涂層厚度大致相同。較薄的標準箔片更適用于這樣的測量場合。

一組5到10個讀數(shù)經計算可得涂層厚度平均值。

4.方法準描片進行校準。這是一種根據(jù)64所述的兩點校準，但無校等的方法。此種方法當然也提供了可靠的測量結果。為了確保更好的校準效果，您可以使用幾片標準箔片（每片不大于50um）疊在一起進行校準。較薄的標準箔片更適用于這樣的測量場合。

測量最少5-10次以計算平均厚度。

請注意：當涂層厚度大于300um時，表面粗糙度的影響可忽略不計。這也是為什么我們通常省略上述校準方法的原因。

德國EPKminitest735 膜厚儀標準配置： 1.MiniTest主機, 型號 725, 735 或 745 2.SIDSP®-探頭，根據(jù)選擇 3.校準箔和參考零板 4.操作說明光盤包含 German, English, French和 Spanish 各種語言 5.軟包及肩帶 6.電池 (2 個, AA Mignon型) 7.制造商證書 8.MSoft 7 基礎版數(shù)據(jù)傳輸軟件

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